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从测试压缩到分层互连：为AI与HPC器件扩展SoC测试
From Test Compression To Hierarchical Connectivity: Scaling SoC Test For AI And HPC Devices
摘要显示，在AI与HPC芯片中，随着测试数据量增长，压缩虽能减少数据量，但测试数据的高效分发同样关键。文章讨论从测试压缩向分层连接架构演进，以应对大规模SoC测试挑战。
意义：AI/HPC芯片测试复杂度上升，分层连接与压缩协同设计成为提升测试效率、降低测试成本的关键方向。